牛津仪器X荧光镀层测厚仪 CMI900是一款性价比极高的台式 X 射线荧光光谱仪，应用于涂镀层厚度测量及材料成分分析。

   ․涂镀层厚度测量和/或材料成分分析，元素范围 Ti - U

   ․可同时进行多达15层元素成分分析

   ․测量方法符合ISO 3497，ASTM B568和DIN 50987应用

   ․多镀层金属厚度测量

   ․合金鉴定及化学分析

   ․电镀液分析

   ․金成色分析

特点

   ․标准50瓦微焦X射线管

   ․计数率增加，精度提高

   ․可升级75瓦光管

   ․多准直器

   ․计数率和光斑尺寸之间的最佳平衡

   ․激光聚焦

   ․改善系统再现性（消除人为干扰）

   ․标准FP软件包

   ․ 综合应用模式

   ․ 简单校准

   ․ 开槽式设计样品台，自动寻找适合所设定焦距的Z轴坐标

   ․ 提供中文等7种语言接口

规格

   ․ X射线激发

   ․ 50 瓦微聚焦钨靶 X 射线管

   ․ 探测器

   ․ 氙气填充的正比计数器

   ․ 数字脉冲处理

   ․ 4096 多道数据分析功能

   ․ 自动信号处理，包括死时间修正

  ․ 计算机

   ․ 奔腾 D，3.0 GHz，160 Gb 硬盘，512Mb 内存，Microsoft

     TM XP系统同等配置或更好

   ․ 电源

   ․ 85~130 或 215~265 伏， 频率范围：47Hz - 63Hz

   ․ 工作环境

   ․ 50°F (10°C) - 104°F (40°C) ，相对湿度达98%，非凝固状态

 ․ 工作台行程（XYZ 轴可调节）

   ․ 6" x 7" x 1.9" (15.2cm x 17.8cm x 4.8cm)